Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> СТРУКТУРНІ ЗМІНИ В ПОРИСТОМУ КРЕМНІЇ ПІСЛЯ ІОННОЇ ІМПЛАНТАЦІЇ ФОСФОРОМ

СТРУКТУРНІ ЗМІНИ В ПОРИСТОМУ КРЕМНІЇ ПІСЛЯ ІОННОЇ ІМПЛАНТАЦІЇ ФОСФОРОМ

Назва:
СТРУКТУРНІ ЗМІНИ В ПОРИСТОМУ КРЕМНІЇ ПІСЛЯ ІОННОЇ ІМПЛАНТАЦІЇ ФОСФОРОМ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
19,26 KB
Завантажень:
229
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12 
ЧЕРНIВЕЦЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНIВЕРСИТЕТ
IМЕНІ ЮРІЯ ФЕДЬКОВИЧА
Литвинчук
іван васильович
УДК 548.734
СТРУКТУРНІ ЗМІНИ В ПОРИСТОМУ КРЕМНІЇ
ПІСЛЯ ІОННОЇ ІМПЛАНТАЦІЇ ФОСФОРОМ
Спеціальність 01.04.07 - фізика твердого тіла
Автореферат
дисертацiї на здобуття наукового ступеня
кандидата фiзико-математичних наук
Чернiвцi – 2004


Дисертацією є рукопис.
Робота виконана на кафедрі фізики твердого тіла Чернівецького
національного університету імені Юрія Федьковича.
Міністерство освіти і науки України
Науковий керівник: доктор фізико-математичних наук, професор
Раранський Микола Дмитрович,
Чернівецький національний університет
імені Юрія Федьковича,
завідувач кафедри фізики твердого тіла
Офiцiйнi опоненти: доктор фізико-математичних наук, професор
Прокопенко Ігор Васильович
Інститут фізики напівпровідників НАН України,
м. Київ, заступник директора
доктор фізико-математичних наук, професор
Ковалюк Захар Дмитрович
Завідувач Чернівецьким відділенням
Інституту матеріалознавства НАН України
Провідна установа: Iнститут металофізики НАН України, м. Київ.
Захист відбудеться “ 29 “ жовтня 2004р. о 1500 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 76.051.01 при Чернівецькому національному університеті імені Юрія Федьковича за адресою: 58012, м. Чернівці, вул. Коцюбинського, 2.
З дисертацією можна ознайомитися в науковій бібліотеці Чернівецького національного університету імені Юрія Федьковича (вул. Лесі Українки, 23).
Автореферат розісланий 28 вересня 2004р.
Вчений секретар
спецiалiзованої вченої ради Курганецький М.В.


ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
АКТУАЛЬНІСТЬ ТЕМИ. Важливим стимулом та незмінним інтересом до вивчення пористих напівпровідників є можливість використання відносно простих електрохімічних та хімічних методів для отримання нанорозмірних об’єктів, а також перспектива створення на їх основі комбінованих оптикоелектронних приладів: світловипромінюючих пристроїв. В якості пористого матеріалу доцільно використовувати кремній. Це пов’язано як із внутрішньою будовою даного матеріалу, так і з його хімічними та фізичними властивостями, відпрацьованими методиками дослідження й отримання матеріалу, а також його великими природними запасами.
Квантово-розмірні обмеження в нанокристалах кремнію дають перспективу у створенні потужних джерел люмінесценції у видимій області спектра. Такий електролюмінесцентний випромінювач із пористого кремнію може бути виготовлений мікронних (і навіть субмікронних) розмірів і сполучений з іншими напівпровідниковими елементами на одному кремнієвому кристалі. Це створює основу для якісного стрибка у розвитку інформаційних і комп'ютерних технологій завдяки швидкодіючій оптичній обробці інформації і створенню кремнієвої оптоелектроніки. Проте, на шляху реалізації подібних задач постають серйозні проблеми, пов'язані з нестабільністю структурних, оптичних, люмінесцентних та інших фізичних і хімічних характеристик пористого кремнію. Слід зазначити, що для стабілізації випромінювальних та структурних характеристик матеріалу найчастіше використовують різноманітні обробки поверхні пористого кремнію, які вирішують дану проблему лише частково, оскільки вносять велику кількість різноманітних порушень і спотворень в кристалічну гратку матеріалу.
Для структурної діагностики поверхневих шарів матеріалів, як правило, використовують Х - променеві методи. Вказані методи є неруйнівними, неконтактними, експресними, володіють високою чутливістю до різного типу спотворень кристалічної гратки. Для уникнення неоднозначностей інтерпретації даних, отриманих з дифрактометричних вимірювань, які пов’язані з нелiнiйністю обернених задач та обмеженістю фазової інформації, існуванням декількох математично рівнозначних розв’язків, дослідження необхідно проводити з використанням цілого комплексу взаємодоповнюючих Х - променевих методів. Удосконалені методи аналітичного і чисельного моделювання процесів динамічного розсіяння Х - променів в реальних кристалах дають унікальну інформацію про розподіл деформацій за товщиною кристалу, ротаційні та дилатаційні деформації кристалічної гратки на глибинах від декількох моношарiв до десятків мiліметрів.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12 



Реферат на тему: СТРУКТУРНІ ЗМІНИ В ПОРИСТОМУ КРЕМНІЇ ПІСЛЯ ІОННОЇ ІМПЛАНТАЦІЇ ФОСФОРОМ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок