Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКЦІЯ В КРИСТАЛАХ ТА БАГАТОШАРОВИХ НАНОРОЗМІРНИХ СИСТЕМАХ, ЩО МІСТЯТЬ ДИСЛОКАЦІЙНІ ПЕТЛІ

Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКЦІЯ В КРИСТАЛАХ ТА БАГАТОШАРОВИХ НАНОРОЗМІРНИХ СИСТЕМАХ, ЩО МІСТЯТЬ ДИСЛОКАЦІЙНІ ПЕТЛІ

Назва:
Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКЦІЯ В КРИСТАЛАХ ТА БАГАТОШАРОВИХ НАНОРОЗМІРНИХ СИСТЕМАХ, ЩО МІСТЯТЬ ДИСЛОКАЦІЙНІ ПЕТЛІ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
19,66 KB
Завантажень:
47
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12 
ЧЕРНIВЕЦЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНIВЕРСИТЕТ
iмені Юрія Федьковича
ГЕВИК
ВАСИЛЬ БОГДАНОВИЧ
УДК 548.734
Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКЦІЯ В КРИСТАЛАХ
ТА БАГАТОШАРОВИХ НАНОРОЗМІРНИХ СИСТЕМАХ,
ЩО МІСТЯТЬ ДИСЛОКАЦІЙНІ ПЕТЛІ
Спеціальність 01.04.07 - фізика твердого тіла
Автореферат
дисертацiї на здобуття наукового ступеня
кандидата фiзико-математичних наук
Чернiвцi – 2005


Дисертацією є рукопис.
Робота виконана на кафедрі фізики твердого тіла Чернівецького
національного університету імені Юрія Федьковича.
Міністерство освіти і науки України
Науковий керівник: доктор фізико-математичних наук, професор
Фодчук Ігор Михайлович,
Чернівецький національний університет
імені Юрія Федьковича,
професор кафедри фізики твердого тіла
Офiцiйнi опоненти: доктор фізико-математичних наук, професор
Прокопенко Ігор Васильович,
Інститут фізики напівпровідників
імені В.Є. Лашкарьова НАН України
м. Київ, заступник директора
доктор фізико-математичних наук, професор
Венгренович Роман Дмитрович,
Чернівецький національний університет
імені Юрія Федьковича,
завідувач кафедри загальної фізики
Провідна організація: Iнститут металофізики імені Г.В. Курдюмова НАН України, м. Київ.
Захист відбудеться “ 28 “ жовтня 2005р. о 1700 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 76.051.01 при Чернівецькому національному університеті імені Юрія Федьковича за адресою: 58012, м. Чернівці, вул. Коцюбинського, 2.
З дисертацією можна ознайомитися в науковій бібліотеці Чернівецького національного університету імені Юрія Федьковича (вул. Л. Українки, 23).
Автореферат розісланий “ “ вересня 2005р.
Вчений секретар
спецiалiзованої вченої ради Курганецький М.В.
ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
Актуальність теми досліджень. Дисертація присвячена дослідженню механізмів і закономірностей формування топографічних зображень дефектів (дислокацій, дислокаційних петель та бар’єрів) у кремнії в умовах аномального проходження Х-променів та аналізу впливу структурних змін на границях розділу в багатошарових нанорозмірних системах на процеси динамічного розсіяння Х-променів.
Методи рентгенівської дифракційної топографії в даний час широко застосовуються для дослідження реальної структури кристалів. До найбільш розповсюджених методів дослідження структурної досконалості кристалів можна віднести Х-променеві топографічні та дифрактометричні методи, що являються неруйнівними, володіють високою чутливістю та інформативністю. Серед традиційних топографічних методів одним з найінформативніших є метод аномального проходження Х-променів, що володіє високою чутливістю до різного роду дефектів. Цей метод, в принципі, дозволяє визначити не тільки тип, геометрію та просторовий розподіл дислокацій, але і характер їх пружного поля. Вже досягнуті значні успіхи в розумінні механізмів формування зображень дислокацій. Фізичною основою топографічних методів є динамічна теорія розсіяння Х- променів. Інформація, що виникає при розсіянні променів на окремому дефекті, закодована на фотопластинці у вигляді дифракційної картини, яку називають контрастом інтенсивності або зображенням дефекту. Розрахунок такої картини є актуальною задачею динамічної теорії розсіяння Х-променів. Проте, дифракційний контраст дефектів, який формується на Х-променевих топограмах, часто буває настільки складним, що важко піддається інтерпретації. Якщо в кристалі є неоднорідності у вигляді локальних, або розподілених по об’єму пружних деформацій, то Х-променеве хвильове поле, яке розповсюджується в гратці, можна описати системою рівнянь Такагі [1*]. У більшості випадків ця система рівнянь у частинних похідних розв'язується чисельними методами кінцевих різниць [2*]. Моделювання зображень дефектів на ЕОМ є одним з найбільш ефективних методів дослідження механізмів формування Х- променевого контрасту. За допомогою ЕОМ можна розрахувати не тільки плоско-хвильовий, але й об'ємний розподіл інтенсивності в борманівському трикутнику розсіяння. Це дозволяє, як правило, встановити роль основних механізмів, які беруть участь у процесі формування зображення.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12 



Реферат на тему: Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКЦІЯ В КРИСТАЛАХ ТА БАГАТОШАРОВИХ НАНОРОЗМІРНИХ СИСТЕМАХ, ЩО МІСТЯТЬ ДИСЛОКАЦІЙНІ ПЕТЛІ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок