Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> ТОПОГРАФІЯ І ДИФРАКТОМЕТРІЯ КРИСТАЛІВ КРЕМНІЮ З ДИСЛОКАЦІЯМИ І МІКРОДЕФЕКТАМИ В УМОВАХ Х-ПРОМЕНЕВОГО АКУСТИЧНОГО РЕЗОНАНСУ

ТОПОГРАФІЯ І ДИФРАКТОМЕТРІЯ КРИСТАЛІВ КРЕМНІЮ З ДИСЛОКАЦІЯМИ І МІКРОДЕФЕКТАМИ В УМОВАХ Х-ПРОМЕНЕВОГО АКУСТИЧНОГО РЕЗОНАНСУ

Назва:
ТОПОГРАФІЯ І ДИФРАКТОМЕТРІЯ КРИСТАЛІВ КРЕМНІЮ З ДИСЛОКАЦІЯМИ І МІКРОДЕФЕКТАМИ В УМОВАХ Х-ПРОМЕНЕВОГО АКУСТИЧНОГО РЕЗОНАНСУ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
16,85 KB
Завантажень:
339
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11 
ЧЕРНIВЕЦЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНIВЕРСИТЕТ
iмені Юрія Федьковича
ФЕДОРЦОВ
ДМИТРО ГЕОРГІЙОВИЧ
УДК 548.734
ТОПОГРАФІЯ І ДИФРАКТОМЕТРІЯ КРИСТАЛІВ КРЕМНІЮ
З ДИСЛОКАЦІЯМИ І МІКРОДЕФЕКТАМИ
В УМОВАХ Х-ПРОМЕНЕВОГО АКУСТИЧНОГО РЕЗОНАНСУ
Спеціальність 01.04.07 - фізика твердого тіла
Автореферат
дисертацiї на здобуття наукового ступеня
кандидата фiзико-математичних наук
Чернiвцi – 2004


Дисертацією є рукопис.
Робота виконана на кафедрі фізики твердого тіла Чернівецького
національного університету імені Юрія Федьковича.
Міністерство освіти і науки України
Науковий керівник: доктор фізико-математичних наук, професор
Фодчук Ігор Михайлович,
Чернівецький національний університет
імені Юрія Федьковича,
професор кафедри фізики твердого тіла
Офiцiйнi опоненти: доктор фізико-математичних наук,
старший науковий співробітник
Кладько Василь Петрович,
Інститут фізики напівпровідників НАН України,
м. Київ, завідувач відділом
доктор фізико-математичних наук, професор
Венгренович Роман Дмитрович,
Чернівецький національний університет
імені Юрія Федьковича,
завідувач кафедри загальної фізики
Провідна організація: Iнститут металофізики НАН України, м. Київ.
Захист відбудеться “ 29 “ жовтня 2004р. о 1700 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 76.051.01 при Чернівецькому національному університеті імені Юрія Федьковича за адресою: 58012, м. Чернівці,
вул. Коцюбинського, 2.
З дисертацією можна ознайомитися в науковій бібліотеці Чернівецького національного університету імені Юрія Федьковича (вул. Лесі Українки, 23).
Автореферат розісланий 28 вересня 2004р.
Вчений секретар
спецiалiзованої вченої ради Курганецький М.В.
ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
Актуальність теми досліджень. Дисертація присвячена дослідженню механізмів і закономірностей впливу деформаційних полів різних типів дислокаційних петель (ковзаючих і призматичних), дислокаційних бар’єрів (Ломера-Котрела) та їх концентрацій на процеси динамічного розсіяння Х-променів у кремнії.
Х-променеві дифракційні методи (Х-променева топографія та дифрактометрія) широко використовуються для вивчення кристалічних речовин різної структурної досконалості, оскільки вони неруйнівні та найбільш інформативні. Відомо, що Х-променеві топографічні зображення відтворюють далекодіючі поля спотворень, утворені дефектами [1]. З аналізу топограм можна отримати не тільки якісний характер розподілу деформаційних полів, але і провести їх кількісний аналіз: визначити модуль вектора Бюргерса дислокацій, статичний фактор Дебая-Валлера, оцінити величини пружної деформації. Використання Х-променевої акустичної взаємодії дозволяє значно розширити можливості традиційних методів у визначенні ступеню досконалості кристалічної структури [2].
Найбільш повно, на даний час, вивчені механізми та закономірності формування дифракційних зображень лінійних (крайових та гвинтових) дислокацій. При ідентифікації Х-променевих зображень більш складних дефектів (криволінійних дислокацій, дислокаційних петель і бар’єрів) виникають значні труднощі їх однозначної інтерпретації. Це пов’язано з різноманітністю явищ, що відбуваються при розповсюдженні та інтерференції блохівських хвиль у реальних кристалах.
Дослідження механізмів формування дифракційного контрасту дефектів базується на основі динамічної теорії розсіяння Х-променів – системі диференціальних рівнянь в частинних похідних зі змінними коефіцієнтами (рівнянь Такагі). Оскільки в більшості випадків ці рівняння не мають аналітичних розв’язків, то моделювання топографічних зображень різного типу дефектів здійснюється за допомогою методів їх чисельного розв’язку [3]. Водночас, використання експериментальних дифракційних зображень дефектів дозволяє, в певній мірі, визначити і уточнити не тільки їх деформаційні поля через функцію локальних розорієнтацій, а також і характер взаємовпливу більш складних дефектів і їх комплексів. Отже, моделювання дифракційних Х-променевих зображень дислокаційних петель, дислокаційних бар’єрів та їх комплексів дозволить не тільки встановити механізми та закономірності процесів динамічного розсіяння Х-променів реальними кристалами, а і створити ефективні методи їх структурної діагностики.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11 



Реферат на тему: ТОПОГРАФІЯ І ДИФРАКТОМЕТРІЯ КРИСТАЛІВ КРЕМНІЮ З ДИСЛОКАЦІЯМИ І МІКРОДЕФЕКТАМИ В УМОВАХ Х-ПРОМЕНЕВОГО АКУСТИЧНОГО РЕЗОНАНСУ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок