Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> БАГАТОХВИЛЬОВА Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКТОМЕТРІЯ РЕАЛЬНИХ КРИСТАЛІВ

БАГАТОХВИЛЬОВА Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКТОМЕТРІЯ РЕАЛЬНИХ КРИСТАЛІВ

Назва:
БАГАТОХВИЛЬОВА Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКТОМЕТРІЯ РЕАЛЬНИХ КРИСТАЛІВ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
17,58 KB
Завантажень:
184
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11 
ЧЕРНIВЕЦЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ УНIВЕРСИТЕТ
iмені Юрія Федьковича
КРИЦУН
ІГОР ІВАНОВИЧ
УДК 539.548.732
БАГАТОХВИЛЬОВА Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКТОМЕТРІЯ
РЕАЛЬНИХ КРИСТАЛІВ
Спеціальність 01.04.07 - фізика твердого тіла
Автореферат
дисертацiї на здобуття наукового ступеня
кандидата фiзико-математичних наук
Чернiвцi – 2005


Дисертацією є рукопис.
Робота виконана на кафедрі фізики твердого тіла Чернівецького
національного університету імені Юрія Федьковича.
Міністерство освіти і науки України
Науковий керівник: доктор фізико-математичних наук, професор
Фодчук Ігор Михайлович,
Чернівецький національний університет
імені Юрія Федьковича,
професор кафедри фізики твердого тіла
Офiцiйнi опоненти: доктор фiзико - математичних наук, професор,
член - кореспондент Національної академії наук України
Молодкін Вадим Борисович
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова
Національної академії наук України, завідувач відділу
доктор фізико-математичних наук, професор
Максимяк Петро Петрович,
Чернівецький національний університет
імені Юрія Федьковича
професор кафедри кореляційної оптики
Провідна організація: Iнститут фізики напівпровідників НАН України, м. Київ.
Захист відбудеться “ 28 “ жовтня 2005р. о 1000 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 76.051.01 при Чернівецькому національному університеті імені Юрія Федьковича за адресою: 58012, м.Чернівці, вул. Коцюбинського, 2.
З дисертацією можна ознайомитися в науковій бібліотеці Чернівецького національного університету імені Юрія Федьковича (вул. Лесі Українки, 23).
Автореферат розісланий “ 27 “ вересня 2005р.
Вчений секретар
спецiалiзованої вченої ради Курганецький М.В.
Загальна характеристика роботи
Актуальність теми досліджень. Для сучасної мікро- та оптоелектроніки характерно використання як відомих, так і нових напівпровідникових матеріалів і перехід від мікро- до нанометрових розмірів окремих елементів. Активні області таких виробів формуються в дуже тонких шарах, властивості яких визначаються складом та структурною досконалістю вихідних кристалів.
Визначення періоду ґратки а кристалічних об'єктів за допомогою Х-променевих методів з максимальною точністю має важливе практичне значення для багатьох областей фізики та матеріалознавства. Вивчення розподілів внутрішніх напруг, складу і природи багатокомпонентних фаз, закономірностей осадження з твердих розчинів, точної локалізації границь фаз і вимірювання коефіцієнтів термічного розширення – це лише деякі з традиційних напрямків застосування Х-променевої дифрактометрії. На основі аналізу зміни періоду ґратки можна отримати необхідну інформацію про природу, концентрацію та властивості дефектів ґратки в металах і напівпровідниках. На даний час накопичено значний обсяг інформації по методах визначення періодів ґратки а кристалічних матеріалів, а також по способах і методиках покращення точності їх визначення [1*-3*]. Зазначимо, що точність вимірювання періоду ґратки кристалічних об'єктів для більшості Х-променевих методів обмежена спектральною шириною дифракційної лінії (дисперсією) і, як правило, .
Разом з тим розвиток новітніх напівпровідникових технологій при виготовленні великих за площею, високочистих та високодосконалих бездислокаційних кристалів не можливий без розвитку оригінальних методик, здатних давати абсолютну і відносну точність по визначенню періодів ґраток на рівні . Тому розробка нових методів Х-променевої дифрактометрії має не тільки прикладне, але й фундаментальне значення, оскільки це дає змогу визначити ряд базисних фізичних констант.
Багатохвильова дифракція, в порівнянні з двохвильовою, обумовлює появу нових явищ в процесах розсіяння рентгенівських променів. Прикладами таких явищ виступають ефект непрямого збудження відбивань, заборонених структурою та ефект просвітлення. Відзначені ефекти лягли в основу багатьох застосувань багатохвильової рентгенівської дифрактометрії. Найбільш відомим серед них є метод Ренінгера [1*], який дозволяє визначати величини міжплощинних віддалей з високою точністю а/ а 10-6. Перевагою даного методу є те, що прецизійність визначення періоду гратки тут залежить не від точності вимірювання відбиваючої здатності кристалу, а від визначення кутової відстані між дифракційними максимумами на багатохвильових дифрактограмах.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11 



Реферат на тему: БАГАТОХВИЛЬОВА Х-ПРОМЕНЕВА ДИФРАКТОМЕТРІЯ РЕАЛЬНИХ КРИСТАЛІВ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок