Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> РЕНТГЕНІВСЬКА ФОТОЕЛЕКТРОННА СПЕКТРОСКОПІЯ ДИСПЕРСНИХ ГЕТЕРОГЕННИХ СИСТЕМ

РЕНТГЕНІВСЬКА ФОТОЕЛЕКТРОННА СПЕКТРОСКОПІЯ ДИСПЕРСНИХ ГЕТЕРОГЕННИХ СИСТЕМ

Назва:
РЕНТГЕНІВСЬКА ФОТОЕЛЕКТРОННА СПЕКТРОСКОПІЯ ДИСПЕРСНИХ ГЕТЕРОГЕННИХ СИСТЕМ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
25,95 KB
Завантажень:
450
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12  13  14  15  16  17 
НАЦІОНАЛЬНА АКАДЕМІЯ НАУК УКРАЇНИ
Інститут металофізики ім. Г.В.Курдюмова
ПЛЮТО ІГОР ВОЛОДИМИРОВИЧ
УДК 539.21:541.183
РЕНТГЕНІВСЬКА ФОТОЕЛЕКТРОННА СПЕКТРОСКОПІЯ ДИСПЕРСНИХ ГЕТЕРОГЕННИХ СИСТЕМ
01.04.18- фізика і хімія поверхні
Автореферат дисертації на здобуття наукового ступеня
доктора фізико-математичних наук
Київ - 2002
Дисертацією є рукопис
Роботу виконано в Інституті металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Науковий консультант:
дoктор фізико-математичних наук,
професор, академік НАН України
Шпак Анатолій Петрович
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України,
зав. відділу спектроскопії поверхні твердого тіла
Офіційні опоненти:
дoктор фізико-математичних наук,
професор, член-кореспондент НАН України
Черепін Валентин Тихонович
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України,
зав. відділу фізики металевих поверхонь
дoктор фізико-математичних наук, професор
Куницький Юрій Анатолійович
Технічний центр НАН України,
зав. відділу фізики наноструктурних матеріалів
дoктор фізико-математичних наук, професор
Горбик Петро Петрович
Інститут хімії поверхні НАН України,
провідний науковий співробітник відділу
хімічної фізики наноструктурних систем
Провідна установа - Інститут фізики напівпровідників НАН України, м.Київ
Захист відбудеться 26 червня 2002 р. о годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 26.168.02 при Інституті металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України (03142, м. Київ, бул. Вернадського, 36)
З дисертацією можна ознайомитися в бібліотеці Інституту металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Автореферат розісланий 16 травня 2002 р.
Вчений секретар
спеціалізованої вченої ради Д 26.168.02
кандидат фізико-математичних наук Т.Л.Сизова
ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
Актуальність теми. Прогрес сучасної техніки та технології обумовлює необхідність, з одного боку, створення нових матеріалів, а з іншого - розвитку методів дослідження і контролю їхніх властивостей. Серед нових перспективних матеріалів, до яких виявляється постійно зростаючий інтерес, виділяються високодисперсні оксиди, що містять у поверхневому шарі кластери металів. Вони мають унікальні каталітичні, eлектрофізичні, оптичні, магнітні, механічні властивості, і тому кластерні системи знаходять широке застосування в сучасній техніці і технологіях як компоненти композиційних матеріалів, каталізатори, селективні сорбенти, наповнювачі полімерних мас тощо. Саме такі матеріали було обрано як об'єкти для дослідження. Цілеспрямований синтез матеріалів даного класу пов'язано з проведенням фундаментальних досліджень в галузі фізики і хімії поверхні твердого тіла, передусім, на атомному і молекулярному рівнях. При цьому принципове значення має вивчення електронного, координаційного, структурного станів, характеру розподілу і розмірів поверхневих кластерів, особливостей їх електронної структури і хімічної взаємодії з носієм.
Одним з найбільш інформативних методів дослідження електронної структури та складу поверхні твердих тіл є метод рентгенівської фотоелектронної спектроскопії (РФС). Основні фізичні принципи і можливості методу викладено в монографії К.Зігбана, опублікованій в 1968 р. Ряд монографій, довідників і оглядів присвячено розвитку теоретичних основ методу, а також його практичному застосуванню до різноманітних фізичних і хімічних проблем: дослідженню електронної структури кристалів, вивченню електронної будови координаційних і eлементоорганічних сполук, каталізу і реакціям на поверхні, технології полімерів тощо. Останнім часом постійно зростаюче число публікацій присвячено застосуванню методу РФС для дослідження дисперсних гетерогенних систем. Метод РФС дає змогу одержувати інформацію про особливості електронних станів атомів на поверхні, валентних і структурних перетворень, що відбуваються в поверхневому шарі в процесі різноманітних обробок і впливів. Вивчаючи валентний стан і хімічне оточення атомів поверхневого шару, дослідники здебільшого обмежуються аналізом енергетичних характеристик фотоелектронних спектрів: енергій зв'язку електронів остовних оболонок, хімічних зсувів, мультиплетних щеплень ліній, сателітної структури тощо.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12  13  14  15  16  17 



Реферат на тему: РЕНТГЕНІВСЬКА ФОТОЕЛЕКТРОННА СПЕКТРОСКОПІЯ ДИСПЕРСНИХ ГЕТЕРОГЕННИХ СИСТЕМ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок