Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> Скачати реферат: ВИЗНАЧЕННЯ ЗАЛИШКОВИХ НАПРУЖЕНЬ МЕТОДОМ ЕЛЕКТРОННОЇ СПЕКЛ-ІНТЕРФЕРОМЕТРІЇ

ВИЗНАЧЕННЯ ЗАЛИШКОВИХ НАПРУЖЕНЬ МЕТОДОМ ЕЛЕКТРОННОЇ СПЕКЛ-ІНТЕРФЕРОМЕТРІЇ / сторінка 4

Назва:
ВИЗНАЧЕННЯ ЗАЛИШКОВИХ НАПРУЖЕНЬ МЕТОДОМ ЕЛЕКТРОННОЇ СПЕКЛ-ІНТЕРФЕРОМЕТРІЇ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
18,40 KB
Завантажень:
354
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12 
Аналіз показав, що на даний час для визначення залишкових напружень найкращі перспективи має метод отворів у поєднанні з методом електронної спекл-інтерферферометрії. Але застосування цього методу потребує всебічної розробки питань – розвитку електронної спекл-інтерферометрії та математичного моделювання напружено-деформованого стану матеріалу в околі висвердленого некрізного отвору.
У другому розділі розглянуто питання, що стосуються використання електронної спекл-інтерферометрії для вимірювання переміщень.
Метод спекл-інтерферометрії засновано на здатності лазерного випромінювання утворювати хаотичну спекл-структуру при відбитті від поверхні (рис.1,а). Кожна точка об'єкта розсіює деяку кількість світла в напрямку спостерігача. Внаслідок своєї когерентності лазерне світло, розсіяне від однієї з точок об'єкту, інтерферує зі світом, розсіяним будь-якою іншою точкою об'єкту, і формує спекл-картину. Така спекл-картина являє собою розподіл фазового поля, відбитого від об'єкта лазерного випромінювання. При переміщенні будь-якої точки в досліджуваній ділянці виникає зміна спекл-картини. Аналіз двох спекл-картин дозволяє отримати інтерференційну картину смуг (рис.1, б) та обчислити зміну координати точки між двома станами.
а | б
Рис.1. Типові спекл-картина (а) та картина інтерференційних смуг (б).
Інтерферометр, оптична схема якого зображена на рис.2, дозволяє реєструвати проекцію вектора переміщень ux точок поверхні D на вісь Ох. Результатом кореляції двох спекл-картин (початкового і кінцевого стану), є інтерференційна картина смуг I, яку можна представити у вигляді виразу
I=a+b cos(??),
де a – фонова освітленість; b – контраст інтерференційної картини; ?? – зміна інтерференційної фази.
Зміна інтерференційної фази ?? пов‘язана з проекцією ux вектора переміщень d на вісь Ох:
(1)
де - кут між напрямком освітлення та напрямком спостереження.
Слід відзначити, що практичне застосування методу електронної спекл-інтерферометрії багато в чому залежить від досконалості методик кількісного розшифрування спекл-інтерферограм. Визначення переміщень у кожній точці поверхні досить трудомістка операція, тому важливо мати автоматизовану обробку спекл-інтерферограм, яка б дозволила підвищити точність та швидкість отримання результатів вимірювання переміщень методом спекл-інтерферометрії.
Основна мета комп’ютеризованого аналізу інтерференційних смуг полягає в автоматичному визначенні розподілу інтерференційної фази ??(x,y) та обчисленні розподілу проекції вектора переміщень на вісь Ох у точках поверхні досліджуваного об'єкта за формулою (1). Метод фазових зсувів –
найефективніший спосіб автоматичного аналізу інтерференційних смуг, оскільки має найбільшу швидкість отримання результатів, порівняно з іншими способами обробки інтерферограм.
Суть методу фазових зсувів полягає в тому, що за допомогою п‘єзокерованого дзеркала в оптичній схемі інтерферометра, додатково вводиться зсув фази ?0n за формулою , n = 1 ... 4;
і реєструються чотири інтерференційні картини смуг :
,
де (x,y) – координати точки поверхні, n = 1...4.
Далі по формулі (2) визначається розподіл фази по всій досліджуваній ділянці
. (2)
Внаслідок періодичності функції арктангенса у формулі (2), виникають різкі стрибки фази (рис.3, б) і втрачається інформація про порядок смуги. Тому необхідно провести процедуру відновлення істинної фази ??ist у кожній точці поверхні. Це потребує визначення порядку інтерференційної смуги N у кожній точці досліджуваної ділянки.
Алгоритм визначення порядку смуги такий. Якщо від точки до точки фаза різко зменшується, то порядок смуги збільшується на одиницю. Якщо фаза різко збільшується, то порядок смуги зменшується на одиницю. Математично зміну порядку смуги ?N можно обчислити за такою формулою:
,
де та – сусідні точки.
Послідовно визначають зміну порядку смуги ?N у точках у горизонтальному напрямку (вздовж горизонтальної лінії). Далі, використовуючи порядок смуги в уже визначених точках, встановлюють порядок смуг, послідовно скануючи фазове зображення вздовж вертикального напрямку.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12 



Реферат на тему: ВИЗНАЧЕННЯ ЗАЛИШКОВИХ НАПРУЖЕНЬ МЕТОДОМ ЕЛЕКТРОННОЇ СПЕКЛ-ІНТЕРФЕРОМЕТРІЇ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок