Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> Вплив локальних структурних дефектів на розсіяння рентгенівських променів та магнітну сприйнятливість кисневомістких кристалів кремнію

Вплив локальних структурних дефектів на розсіяння рентгенівських променів та магнітну сприйнятливість кисневомістких кристалів кремнію

Назва:
Вплив локальних структурних дефектів на розсіяння рентгенівських променів та магнітну сприйнятливість кисневомістких кристалів кремнію
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
17,88 KB
Завантажень:
452
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11 
Київський національний університет
ІМЕНІ Тараса Шевченка
Пацай Богдан Дмитрович
УДК 539.26:548.4
Вплив локальних структурних дефектів на розсіяння рентгенівських променів та магнітну сприйнятливість кисневомістких кристалів кремнію
01.04.07 – фізика твердого тіла
Автореферат
дисертації на здобуття наукового ступеня
кандидата фізико-математичних наук
Київ – 2004


Дисертацією є рукопис.
Робота виконана на кафедрі фізики металів Київського національного університету імені Тараса Шевченка.
Науковий керівник: доктор фізико-математичних наук, професор,
Лауреат державної премії, заслужений професор
Київського національного університету імені Тараса Шевченка
Новиков Микола Миколайович,
Київський національний університет імені Тараса Шевченка
Офіційні опоненти: член-кореспондент НАН України
доктор фізико-математичних наук, професор
Молодкін Вадим Борисович,
Інститут металофізики НАН України, м. Київ
зав. відділу теорії твердого тіла
доктор фізико-математичних наук, професор
Репецький Станіслав Петрович,
Київський національний університет імені Тараса Шевченка, професор кафедри фізики функціональних матеріалів
Провідна установа: Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України, м. Київ
Захист відбудеться 24.01. 2005 року о 13 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 26.001.23 Київського національного університету імені Тараса Шевченка за адресою: 03680, м. Київ, просп. Акад. Глушкова, 2, корпус 1, ауд. 200.
З дисертацією можна ознайомитись у бібліотеці Київського національного університету імені Тараса Шевченка за адресою: 01033, м. Київ, вул. Володимирська, 58.
Автореферат розісланий 22.12. 2004 року.
Вчений секретар
спеціалізованої вченої ради,
доктор фізико-математичних наук Л.В. Поперенко


ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
Актуальність теми. Відомо, що основні властивості монокристалів, які використовуються в науці і техніці, залежать від дефектної структури. Виходячи із цього, виникає потреба в експресній структурній діагностиці напівпровідникових матеріалів. Це важливе практичне завдання ґрунтується на значних фізичних дослідженнях і над його рішенням вже тривалий час працюють численні колективи вчених. На сьогодні було випробувано достатньо великий арсенал фізичних методів на підставі чого було зроблено висновок про те, що одними із найінформативніших і експресніших, у даному випадку, можуть бути рентгено-дифрактометричні дослідження, якими в Україні займаються Інститут металофізики НАН України імені Г.В. Курдюмова, Інститут фізики напівпровідників НАН України, Чернівецький національний університет ім. Ю. Федьковича, Київський національний університет імені Тараса Шевченка тощо. Нажаль, надійність і достовірність одержаних, особливо кількісних, даних у цих роботах ґрунтується, у першу чергу, на коректності теоретичної моделі й відповідної цій моделі аналітичної обробки результатів експерименту. Саме це спонукає до пошуку нових методів розрахунків.
Сучасний підхід до вивчення дифракції рентгенівських променів у достатньо досконалих кристалах, як відомо, базується на динамічній теорії розсіяння, різні варіанти використання якої ґрунтовно опрацьовані вченими інституту металофізики НАНУ. В експериментальному плані найбільш вдалими методами вивчення розсіяння рентгенівського проміння хаотично розподіленими, сіяними, локальними дефектами виявляється дво- і особливо трикристальна дифрактометрія, в якій дифузна і когерентна частина розсіяння може бути безпосередньо визначена. Тому дво- і трикристальна дифрактометрія широко використовується для спостереження та вивчення різноманітних, в основному локальних, структурних недосконалостей. Одержані за цими методами дифрактограми дозволяють отримати важливу інформацію, щодо структурних характеристик реальних кристалів. Останніми роками виконані фундаментальні теоретичні дослідження різних випадків дифракції рентгенівського проміння в реальних монокристалах з однорідно розподіленими локальними дефектами, одержані аналітичні вирази, які позв'язують інтенсивності розсіяння з характеристиками дефектів різного роду.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11 



Реферат на тему: Вплив локальних структурних дефектів на розсіяння рентгенівських променів та магнітну сприйнятливість кисневомістких кристалів кремнію

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок