Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> ФОТОМЕТРИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ПОВЕРХОНЬ та частинок з передфрактальною структуроЮ

ФОТОМЕТРИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ПОВЕРХОНЬ та частинок з передфрактальною структуроЮ

Назва:
ФОТОМЕТРИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ПОВЕРХОНЬ та частинок з передфрактальною структуроЮ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
19,61 KB
Завантажень:
455
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12 
Харківський національний університет
ім. В.Н. Каразіна
Петров Дмитро Володимирович
УДК 535.36
ФОТОМЕТРИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ПОВЕРХОНЬ та частинок з передфрактальною структуроЮ
01.04.05 – оптика, лазерна фізика
Автореферат
дисертації на здобуття наукового ступеня
кандидата фізико-математичних наук
Харків – 2005


Дисертацією є рукопис
Роботу виконано в Харківському національному університеті
ім. В.Н. Каразіна Міністерства освіти і науки України
Науковий керівник: доктор фізико-математичних наук,
професор Шкуратов Юрій Григорович,
Харківський національний університет ім. В.Н. Каразіна,
директор НДІ астрономії.
Офіційні опоненти:
доктор фізико-математичних наук, Яновський Володимир Володимирович, Інститут монокристалів НАН України, завідувач теоретичним відділом;
кандидат фізико-математичних наук, старший науковий співробітник, Корнієнко Юрій В'ячеславович, Інститут радіофізики й електроніки НАН України ім. О.Я. Усікова, керівник групи.
Провідна установа
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України, відділ спектроскопії молекулярних кріогенних систем, м. Харків.
Захист відбудеться "08" квітня 2005 р. о 16.00 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 64.051.03 Харківського національного університету ім. В.Н. Каразіна (61077, м. Харків, пл. Свободи, 4, ауд. ім. К.Д. Синельникова).
З дисертацією можна ознайомитись у Центральній науковій бібліотеці Харківського національного університету ім. В.Н. Каразіна за адресою 61077, м. Харків, пл. Свободи, 4.
Автореферат розіслано "01" березня 2005 р.
Вчений секретар
спеціалізованої вченої ради Пойда В.П.


ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
Актуальність теми. Задача розсіювання світла поверхнями зі складною структурою важлива для фундаментальних і прикладних досліджень у багатьох галузях науки, зокрема, у лабораторному оптичному експерименті, а також для розробки методів дистанційного зондування природних об'єктів, таких як тверді планетні поверхні. У багатьох випадках, важливих із практичної точки зору, при розв`язуванні задачі розсіювання можна обмежитися наближенням геометричної оптики. При цьому особливий інтерес представляє теоретичний опис тіньового ефекту і багаторазового розсіювання на елементах об'єкта, що розсіює.
Тіньовий ефект відіграє важливу роль у формуванні фотометричних властивостей предметів, які нас оточують. Це один з найстаріших оптичних ефектів, які відомі людству. Його теоретичний опис зводиться до пошуку функції затінення, що характеризує при заданих кутах падіння і розсіювання світла частину одночасно і освітленої і видимої площі досліджуваної структури (як для шорсткої поверхні, так і для складної частинки). У наближенні однократного розсіювання функція затінення близька за змістом до функції розсіювання, яка характеризує відношення розсіяного потоку випромінювання до падаючого потоку. Відмінність полягає лише у тому, що функція розсіювання, крім тіньового ефекту, враховує ще й індикатрису розсіювання світла елементарними площадками.
Задача розрахунку затінень для складних систем зі складною структурою дотепер ще строго не розв`язана. Розрахунок тіньового ефекту, як правило, починають з опису властивостей і характеристик середовища, що розсіює. Для математичного моделювання шорстких поверхонь раніше використовували як детерміновані, так і випадкові математичні функції. У більшості сучасних праць для опису шорстких поверхонь використовують статистичний підхід. Зокрема, для опису рельєфу планетних тіл використовують двомасштабну модель: великий масштаб описується однозначною випадковою функцією, а дрібний масштаб – моделлю статистично однорідного дискретного середовища, яке складається з напівпрозорих частинок випадкової форми.
Стохастичніcть структури поверхні – важлива обставина, яка наближує моделі до реальності, але і вона не у повній мірі відображає складність ситуації. Зокрема, ще донедавна при розв`язанні геометрооптичних задач, пов'язаних з урахуванням впливу рельєфу поверхні на її фотометричну функцію, не брали до уваги один з важливих факторів, а саме деяку самоподібність цього рельєфу при різних масштабах його розгляду.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12 



Реферат на тему: ФОТОМЕТРИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ПОВЕРХОНЬ та частинок з передфрактальною структуроЮ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок