Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> ПРОЕКТУВАННЯ ТЕСТIВ ДЛЯ ПОСЛIДОВНОСНИХ ФУНКЦIОНАЛЬНИХ СХЕМ, ЩО РЕАЛIЗОВАНI У ПРОГРАМОВАНIЙ ЛОГIЦIПРОЕКТУВАННЯ ТЕСТIВ ДЛЯ ПОСЛIДОВНОСНИХ ФУНКЦIОНАЛЬНИХ СХЕМ, ЩО РЕАЛIЗОВАНI У ПРОГРАМОВАНIЙ ЛОГIЦIМОДЕЛІ ТА АЛГОРИТМИ ГЕНЕРАЦІЇ ТЕСТІВ ДЛЯ ЦИФРОВИХ СИСТЕМ, ЩО

ПРОЕКТУВАННЯ ТЕСТIВ ДЛЯ ПОСЛIДОВНОСНИХ ФУНКЦIОНАЛЬНИХ СХЕМ, ЩО РЕАЛIЗОВАНI У ПРОГРАМОВАНIЙ ЛОГIЦIПРОЕКТУВАННЯ ТЕСТIВ ДЛЯ ПОСЛIДОВНОСНИХ ФУНКЦIОНАЛЬНИХ СХЕМ, ЩО РЕАЛIЗОВАНI У ПРОГРАМОВАНIЙ ЛОГIЦIМОДЕЛІ ТА АЛГОРИТМИ ГЕНЕРАЦІЇ ТЕСТІВ ДЛЯ ЦИФРОВИХ СИСТЕМ, ЩО

Назва:
ПРОЕКТУВАННЯ ТЕСТIВ ДЛЯ ПОСЛIДОВНОСНИХ ФУНКЦIОНАЛЬНИХ СХЕМ, ЩО РЕАЛIЗОВАНI У ПРОГРАМОВАНIЙ ЛОГIЦIПРОЕКТУВАННЯ ТЕСТIВ ДЛЯ ПОСЛIДОВНОСНИХ ФУНКЦIОНАЛЬНИХ СХЕМ, ЩО РЕАЛIЗОВАНI У ПРОГРАМОВАНIЙ ЛОГIЦIМОДЕЛІ ТА АЛГОРИТМИ ГЕНЕРАЦІЇ ТЕСТІВ ДЛЯ ЦИФРОВИХ СИСТЕМ, ЩО
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
17,56 KB
Завантажень:
96
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10 
ХАРКІВСЬКИЙ ДЕРЖАВНИЙ ТЕХНІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ
РАДІОЕЛЕКТРОНІКИ
 
СКВОРЦОВА ОЛЬГА БОРИСIВНАМд. МЕХЕДІ МАСУД
УДК 681.32:519.713
ПРОЕКТУВАННЯ ТЕСТIВ ДЛЯ ПОСЛIДОВНОСНИХ ФУНКЦIОНАЛЬНИХ СХЕМ, ЩО РЕАЛIЗОВАНI У ПРОГРАМОВАНIЙ ЛОГIЦIПРОЕКТУВАННЯ ТЕСТIВ ДЛЯ ПОСЛIДОВНОСНИХ ФУНКЦIОНАЛЬНИХ СХЕМ, ЩО РЕАЛIЗОВАНI У ПРОГРАМОВАНIЙ ЛОГIЦIМОДЕЛІ ТА АЛГОРИТМИ ГЕНЕРАЦІЇ ТЕСТІВ ДЛЯ ЦИФРОВИХ СИСТЕМ, ЩО ПРОЕКТУЮТЬСЯ У СЕРЕДОВИЩІ VHDL
 
05.13.12 – системи автоматизації проектувальних робіт
АВТОРЕФЕРАТ
дисертації на здобуття наукового ступеня
кандидата технічних наук
Харків 2002
Дисертацією є рукопис.
 
Робота виконана в Харківському нацiональному університеті радіоелектроніки, Міністерство освіти і науки України.
Науковий керівник доктор технічних наук, професор Хаханов Володимир Іванович,
Харківський державний технічний університет
радіоелектроніки, професор кафедри
автоматизації проектування обчислювальної техніки
Офіційні опоненти: доктор технічних наук, професор
Дербунович Леонід Вікторович,
Національний технічний університет “Харківський політехнічний інститут”, професор кафедри автоматики і управління в технічних системах.
кандидат технічних наук Литвинова Євгенія Іванівна,
Харківський державний технічний університет
радіоелектроніки, доцент кафедри технології і автоматизації
виробництва радіоелектронних засобів та
електронно-обчислювальних засобів
Провідна установа: Національний технічний університет України “КПІ”,
Міністерство освіти і науки України, м. Київ
Захист відбудеться 23 квітня 2002 року о 14 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 64.052.02 у Харківському нацiональному університеті радіоелектроніки за адресою: 61166, м. Харків, пр. Леніна, 14.
З дисертацією можна ознайомитися в бібліотеці Харківського державного технічного університету радіоелектроніки за адресою: 61166, м. Харків, пр. Леніна, 14.
Автореферат розісланий 20 березня 2002 року
Вчений секретар
спеціалізованої вченої ради Безкоровайний В.В.
ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
Рівень розвитку мікроелектроніки є визначальним для побудови причинно-наслідкової ієрархії створення нових систем: мікроелектронні субмікронні технології – схемотехнічні стандарти – системно-технічні рішення. На середньому рівні цифрової техніки найбільш популярні три базові компоненти: мікропроцесорні БІС (CPU); замовлені БІС (ASIC); програмовані логічні інтегральні схеми – ПЛIС (CPLD, FPGA).
Постійно конкуруючи один з одним, вони складають базу імплементації синтезованих цифрових систем на основі використання універсального дорогого процесора або шляхом створення спеціалізованого обчислювача. В останньому випадку конкурентна боротьба виграється більш дешевими і менш трудомісткими при проектуванні ПЛIС. Але дійсну революцію в області високих технологій проектування зробило об’єднання переваг універсального процесора зі швидкодією і можливостями реконфігурації ПЛIС. Така інтеграція породила нову ефективну концепцію створення цифрової обчислювальної системи – Hardware - Software Cooperation Design. При цьому ПЛIС виграли тверду конкуренцію на ринку мікроелектроніки, вступивши у вигідний союз з CPU. Останні придбали нові якості: висока швидкість паралельної обробки даних і можливість перенастроювання обчислювальної системи для ефективного вирішення конкретного класу задач. Поява нових виробів мікроелектроніки і схемотехнічних рішень породило новий об’єкт діагностичного обслуговування у виді структурно і функціонально складної реалізації цифрової системи на кристалі ПЛIС. Проблема тестування такого об’єкта визначається протиріччям між необхідністю проектування тестів для верифікації цифрових систем за прийнятний час у межах декількох годин, з одного боку, а з іншого боку – можливістю обробки проектів на основі ПЛIС, що складають сотні тисяч еквівалентних вентилів.
Відмовляючись від розробки дорогих і універсальних алгоритмів генерації тестів для різних типів об’єктів діагностування, у якості основної застосовується стратегія послідовного нарощування функцій системи генерації тестів завдяки створенню алгоритмів, що орієнтованi на обробку окремих типів цифрових структур.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10 



Реферат на тему: ПРОЕКТУВАННЯ ТЕСТIВ ДЛЯ ПОСЛIДОВНОСНИХ ФУНКЦIОНАЛЬНИХ СХЕМ, ЩО РЕАЛIЗОВАНI У ПРОГРАМОВАНIЙ ЛОГIЦIПРОЕКТУВАННЯ ТЕСТIВ ДЛЯ ПОСЛIДОВНОСНИХ ФУНКЦIОНАЛЬНИХ СХЕМ, ЩО РЕАЛIЗОВАНI У ПРОГРАМОВАНIЙ ЛОГIЦIМОДЕЛІ ТА АЛГОРИТМИ ГЕНЕРАЦІЇ ТЕСТІВ ДЛЯ ЦИФРОВИХ СИСТЕМ, ЩО

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок