Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> ДЕФОРМАЦІЙНІ ЗАЛЕЖНОСТІ ПОВНИХ ІНТЕГРАЛЬНИХ ІНТЕНСИВНОСТЕЙ В ДИФРАКТОМЕТРІЇ МІКРОДЕФЕКТІВ МОНОКРИСТАЛІВ

ДЕФОРМАЦІЙНІ ЗАЛЕЖНОСТІ ПОВНИХ ІНТЕГРАЛЬНИХ ІНТЕНСИВНОСТЕЙ В ДИФРАКТОМЕТРІЇ МІКРОДЕФЕКТІВ МОНОКРИСТАЛІВ

Назва:
ДЕФОРМАЦІЙНІ ЗАЛЕЖНОСТІ ПОВНИХ ІНТЕГРАЛЬНИХ ІНТЕНСИВНОСТЕЙ В ДИФРАКТОМЕТРІЇ МІКРОДЕФЕКТІВ МОНОКРИСТАЛІВ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
17,81 KB
Завантажень:
197
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12 
НАЦІОНАЛЬНА АКАДЕМІЯ НАУК УКРАЇНИ
ІНСТИТУТ МЕТАЛОФІЗИКИ ім. Г.В. КУРДЮМОВА
РУДНИЦЬКА Ірина Іванівна
УДК 539.26
ДЕФОРМАЦІЙНІ ЗАЛЕЖНОСТІ
ПОВНИХ ІНТЕГРАЛЬНИХ ІНТЕНСИВНОСТЕЙ
В ДИФРАКТОМЕТРІЇ МІКРОДЕФЕКТІВ
МОНОКРИСТАЛІВ
 
01.04.07 – фізика твердого тіла
Автореферат на здобуття наукового ступеня
кандидата фізико-математичних наук
Київ – 2005


Дисертацією є рукопис.
Робота виконана в Інституті металофізики ім. Г.В. Курдюмова
Національної академії наук України
Науковий керівник кандидат фізико-математичних наук, Низкова Ганна Івановна,
Інститут металофізики ім Г.В. Курдюмова НАН України, завідувач відділу.
ст. наук. співр. Відділу теорії твердого тіла
Офіційні опоненти:
доктор фізико-математичних наук, професор
Новиков М.М., проф.. кафедри фізики металів,
Київського національного університету ім. Тараса
Шевченка
доктор фізико-математичних наук, професор
Прокопенко Ігор Васильович, заступник директора
Інституту фізики напівпровідників НАН України
Провідна установа:
Чернівецький національний університет
ім. Ю.Федьковича МОН України, м. Чернівці
Захист відбудеться "29" березня 2005 р. о 14 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д.26.168.02 при Інституті металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України за адресою 03142, м. Київ, бульвар Вернадського, 36.
З дисертацією можна ознайомитись в бібліотеці Інституту металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України за адресою: 03142, м.Київ, бульв. Акад. Вернадського,36.
Автореферат розісланий 23 лютого 2005 р.
Учений секретар
спеціалізованої
вченої ради Д.26.168.02
д. ф.-м. н. _________________ СИЗОВА Т.Л.
підпис


Загальна характеристика роботи
Актуальність теми. Сьогодні стало загальновизнаним, що властивості матеріалів визначаються не стільки вихідною будовою та параметрами їх ідеальної кристалічної гратки, які можуть бути надійно визначені методами класичної кристалографії, скільки характером наведеної в них цілеспрямовано сучасними технологіями дефектної структури. Діагностичний контроль для керування такою структурою і, як наслідок, якістю матеріалів (їх сертифікація) є найважливішим і набагато більш складним завданням, яке вже не може бути вирішене в рамках класичної кристалографії, оскільки тут остання виявляється безсилою.
Основою ж для діагностики характеристик дефектної структури у кристалах є кінематична теорія розсіяння випромінювань у таких кристалах. ІМФ НАНУ відомий в усьому світі, зокрема, саме тим, що в ньому М.О.Кривоглазом було побудовано таку теорію, та на її основі ним проведено класифікацію дефектів кристалу за їх впливом на картину розсіяння, тобто за їх впливом на характер розподілу дифрагованої інтенсивності у просторі оберненої гратки. Ця теорія та вказана класифікація визнані та широко застосовуються вже десятки років в усьому світі, а книга М.О.Кривоглаза по цій проблемі, перевидана у 1994 році після смерті Кривоглаза М.О., виявилася безсмертною та є однією з найбільш популярних та цитуємих монографій. Ці роботи та узагальнення їх учнем М.О.Кривоглаза К.П.Рябошапкою на випадок неоднорідного розподілу дефектів визначають рівень світових досягнень у цій галузі і сьогодні.
Однак і кінематична теорія теж виявилася не всездатною. Найсучасніші технології, так звані субмікронні та нанотехнології, вимагають часто початкового виведення (виключення) дефектів з кристалів, тобто створення вихідно максимально досконалих монокристалів, та наступної інженерії на атомному рівні з метою конструювання спеціальної надтонкої дефектної структури, необхідної для вирішення різного роду технічних проблем.
Мова йде про такі функціональні матеріали, як монокристали з профільованими поверхнями, модифікованими поверхневими шарами, надгратки, багатошарові композиційні структури та т. і.
У таких матеріалах, коли їх розміри та характерна довжина когерентності розсіяння перевищують довжину екстинкції, стають суттєвими процеси багатократного розсіяння, та кінематична теорія, що є наближенням однократного розсіяння, виявляється непридатною принципово. Класифікація дефектів М.О.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12 



Реферат на тему: ДЕФОРМАЦІЙНІ ЗАЛЕЖНОСТІ ПОВНИХ ІНТЕГРАЛЬНИХ ІНТЕНСИВНОСТЕЙ В ДИФРАКТОМЕТРІЇ МІКРОДЕФЕКТІВ МОНОКРИСТАЛІВ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок