Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> БАГАТОАСПЕКТНИЙ МЕТОД ТА АЛГОРИТМИ ГЕНЕРАЦІЇ ТЕСТІВ КОМБІНОВАНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ МІКРОПРОЦЕСОРНИХ ПРИСТРОЇВ

БАГАТОАСПЕКТНИЙ МЕТОД ТА АЛГОРИТМИ ГЕНЕРАЦІЇ ТЕСТІВ КОМБІНОВАНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ МІКРОПРОЦЕСОРНИХ ПРИСТРОЇВ

Назва:
БАГАТОАСПЕКТНИЙ МЕТОД ТА АЛГОРИТМИ ГЕНЕРАЦІЇ ТЕСТІВ КОМБІНОВАНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ МІКРОПРОЦЕСОРНИХ ПРИСТРОЇВ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
16,77 KB
Завантажень:
387
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11 
ДЕРЖКОМІТЕТ ПРОМИСЛОВОЇ ПОЛІТИКИ УКРАЇНИ
НАУКОВО-ВИРОБНИЧА КОРПОРAЦIЯ
" КИЇВСЬКИЙ IНСТИТУТ АВТОМАТИКИ"
На правах рукопису
Бойчук Вадим Олександрович
УДК 004.2:004.3
БАГАТОАСПЕКТНИЙ МЕТОД ТА АЛГОРИТМИ ГЕНЕРАЦІЇ ТЕСТІВ КОМБІНОВАНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ МІКРОПРОЦЕСОРНИХ ПРИСТРОЇВ
Спеціальність 05.13.05 – Елементи та пристрої обчислюваної
техніки та систем керування
АВТОРЕФЕРАТ
дисертацiї на здобуття наукового ступеня кандидата
технiчних наук
Київ - 2000
Дисертацiєю є рукопис.
Робота виконана на кафедрі комп’ютерних систем Технологiчного університету Подiлля (м.Хмельницький) Міністерства освіти і науки України.
Науковий керiвник - доктор технiчних наук, професор
Локазюк Вiктор Миколайович,
завідувач кафедри комп’ютерних систем
Технологічного університету Поділля.
Офiцiйнi опоненти - доктор технiчних наук, професор Савченко
Юлій Григорович, професор кафедри звукотехніки
та реєстрації інформації Національного технічного
університету України "Київський політехнічний
інститут";
- кандидат технiчних наук Рабчук Віталій
Львович, завідувач відділу проектування
ЗАТ "Інфоком -Супутникові телекомунікації".
Провiдна установа - Вінницький державний технічний університет
Міністерства освіти і науки України, кафедра
інтелектуальних систем.
 
Захист вiдбудеться 11 жовтня 2000 р. о 13 год. на
засiданнi спецiалiзованої вченої ради К.26.818.01 НВК "Київський iнститут автоматики" за адресою: 04107 Київ, вул.Нагiрна, 22.
 
З дисертацiєю можна ознайомитись у бiблiотецi НВК "Київський iнститут автоматики" за адресою: 04107 Київ, вул.Нагiрна, 22.
Автореферат розiсланий " 10" вересня 2000 р.
Вчений секретар
спецiалiзованої вченої ради
кандидат технiчних наук Тронько Л.П.
Загальна характеристика роботи
Актуальність теми. Основою обчислювальної техніки, сучасних пристроїв автоматики, засобів керування і зв'язку є мікропроцесорні пристрої (МПП). Значно розширилося застосування МПП за останні роки, що обумовлює зростаючий інтерес до забезпечення високих показників якості і надійності МПП. Для контролю і діагностування мікропроцесорних пристроїв були розроблені різні методи і засоби.
Одним із найбільш ефективних є метод тестового комбінованого діагностування, який полягає в проведенні певних послідовностей структурних та покомпонентних перевірок як об'єкта діагностування в цілому, так і його фрагментів і компонентів. При цьому сигнали тестових дій максимально наближені до робочих, а відповідні реакції аналізуються за різними діагностичними параметрами.
Але існуючі методи й алгоритми генерації тестів не розраховані на одержання ефективних тестових наборів для комбінованого діагностування сучасних МПП. Це знижує ефективність процесу діагностування і його достовірність. Тому одним із питань, що вимагає вирішення, є розробка моделі МПП як об'єкта діагностування, уточнення моделей несправностей і на їх основі розробка методу й алгоритмів генерації тестів комбінованого діагностування мікропроцесорних пристроїв.
Зв'язок роботи з науковими програмами, планами, темами. Подані в дисертації дослідження проводилися в рамках держбюджетних НДР Технологічного університету Поділля: №9Б-92 (ТА-ХМТИ-ОУ) "Розвиток теорії і розробка методу комбінованого діагностування цифрових, цифро-аналогових і аналого-цифрових пристроїв із компонентами підвищеного ступеня інтеграції бортових і наземних установок нової техніки" (1992-1995 рр.); №6Б-98 "Теорія тестового комбінованого діагностування структур із компонентами підвищеного ступеня інтеграції" (1996-1997 рр.).
Автор є співвиконавцем розроблених систем діагностування МПП "Пальма-Ц-1460" і "ТЕКОД-2М".
Метою дисертаційної роботи є подальший розвиток методу комбінованого діагностування сучасних МПП, спрямований на підвищення ефективності і достовірності процесу тестування за допомогою розробки нового багатоаспектного методу генерації тестів і алгоритмів його реалізації.
Об'єктом досліджень в дисертаційній роботі є мікропроцесорні пристрої, які являють собою схемно-конструктивне з'єднання декількох мікросхем на друкованій платі, включаючи один чи декілька мікропроцесорів.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11 



Реферат на тему: БАГАТОАСПЕКТНИЙ МЕТОД ТА АЛГОРИТМИ ГЕНЕРАЦІЇ ТЕСТІВ КОМБІНОВАНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ МІКРОПРОЦЕСОРНИХ ПРИСТРОЇВ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок