Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> МОДЕЛЮВАННЯ ДЕФЕКТОСКОПІЧНИХ РЕНТГЕНОТЕЛЕВІЗІЙНИХ СИСТЕМ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ МАТЕРІАЛІВ

МОДЕЛЮВАННЯ ДЕФЕКТОСКОПІЧНИХ РЕНТГЕНОТЕЛЕВІЗІЙНИХ СИСТЕМ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ МАТЕРІАЛІВ

Назва:
МОДЕЛЮВАННЯ ДЕФЕКТОСКОПІЧНИХ РЕНТГЕНОТЕЛЕВІЗІЙНИХ СИСТЕМ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ МАТЕРІАЛІВ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
18,87 KB
Завантажень:
421
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12  13 
Національний технічний університет України“
Київський політехнічний інститут”
Слободян Ніна Вячеславівна
УДК 621.397.2:621.386
МОДЕЛЮВАННЯ ДЕФЕКТОСКОПІЧНИХ РЕНТГЕНОТЕЛЕВІЗІЙНИХ СИСТЕМ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ МАТЕРІАЛІВ
05.27.01 – Твердотільна електроніка
Автореферат дисертації на здобуття наукового ступеня
кандидата технічних наук
Київ-2007
Дисертацією є рукопис
Робота виконана в Національному технічному університеті України “Київський політехнічний інститут” Міністерства освіти і науки України на кафедрі електронних приладів та пристроїв
Науковий керівник: доктор технічних наук, професор
Денбновецький Станіслав Володимирович,
Національний технічний університет України “КПІ”,
професор кафедри електронних приладів та пристроїв
Офіційні опоненти: доктор фізико-математичних наук, професор
Сизов Федір Федорович,
Інститут фізики напівпровідників
ім. В.Є. Лашкарьова НАН України,
завідувач відділом фізики та технології низьковимірних систем
кандидат технічних наук
Карушкін Микола Федорович
Державне підприємство НДІ “ОРІОН” Міністерства
промислової політики України, м. Київ, заст. директора
Захист відбудеться “12” вересня 2007 р. о 14.30 на засіданні
спеціалізованої вченої ради Д 26.002.08 у Національному технічному
університеті України “Київський політехнічний інститут” за адресою:
03056, м. Київ, проспект Перемоги, 37, корп. 12, ауд. 412.
З дисертацією можна ознайомитися у бібліотеці НТУУ “КПІ” за адресою:
03056, м. Київ, проспект Перемоги, 37.
Автореферат розіслано “3” липня 2007 р.
Вчений секретар спеціалізованої
вченої ради, д. т. н., проф. Савін В.Г.
ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
Актуальність теми. Неруйнівний контроль якості готових виробів та виробів на проміжних стадіях технологічного процесу є невід’ємною складовою сучасного виробництва. Ефективним, широко розповсюдженим методом неруйнівного контролю є метод рентгенівської дефектоскопії, розвиток якого одержав потужний імпульс внаслідок застосування телевізійної та комп’ютерної техніки при створенні сучасних дефектоскопічних систем. Для забезпечення ефективності, високої продуктивності, постійного вдосконалення сучасних методів рентгенівської дефектоскопії, при їх впроваджені у різні галузі промисловості, необхідний розвиток науково-технічних основ функціонування подібних систем, зокрема з врахуванням наявності в їх складі засобів телевізійного перетворення та передачі рентгенівського зображення. На даний час досягнутий значний прогрес у створенні науково-технічних основ стосовно використання рентгенотелевізійних дефектоскопічних систем з стаціонарним джерелом рентгенівського випромінювання та рентгеноелектричним перетворювачем (РЕП) з рентгеновідиконом (РВ) для контролю технологічних операцій (зокрема, зварювання) у чорній металургії, машинобудуванні, будівництві. В той самий час залишаються недостатньо розвинутими моделювання та науково-технічні питання застосування сучасних засобів рентгенотелевізійної дефектоскопічної техніки для контролю якості зразків напівпровідникових матеріалів та готових напівпровідникових приладів – виробів сучасної електронної промисловості. Специфіка властивостей відшукуваних дефектів, малі та надмалі розміри досліджуваних об’єктів, велика різноманітність напівпровідникових матеріалів та їх властивостей потребують відокремлення задачі їх контролю в окрему галузь рентгенівської дефектоскопії. Особливостями, в порівнянні з масивними об’єктами чорної металургії, відзначається вже сам процес поглинання рентгенівського випромінювання тонкими напівпровідниками та формування тіньового рентгенівського зображення, властивості вихідного сигналу перетворювача. У наш час не розроблено ефективних математичних моделей процесів функціонування імпульсних джерел рентгенівського випромінювання різних типів, які мають невеликі розміри та малу енергомісткість і добре пристосовані для використання у дефектоскопії напівпровідникових виробів. Потребує розвитку використання для опису технічних характеристик рентгенотелевізійних систем (РТВС) та аналізу процесів їх функціонування прогресивний метод цифрових лінійних фільтрів, що сприяє автоматизації контролю з застосуванням комп’ютерної техніки.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12  13 



Реферат на тему: МОДЕЛЮВАННЯ ДЕФЕКТОСКОПІЧНИХ РЕНТГЕНОТЕЛЕВІЗІЙНИХ СИСТЕМ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ МАТЕРІАЛІВ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок