Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> МЕТОД ТА ІНФОРМАЦІЙНО-ВИМІРЮВАЛЬНА СИСТЕМА КОРЕЛЯЦІЙНОГО АНАЛІЗУ СПЕКЛ-ЗОБРАЖЕНЬ ПОВЕРХОНЬ МАТЕРІАЛІВ

МЕТОД ТА ІНФОРМАЦІЙНО-ВИМІРЮВАЛЬНА СИСТЕМА КОРЕЛЯЦІЙНОГО АНАЛІЗУ СПЕКЛ-ЗОБРАЖЕНЬ ПОВЕРХОНЬ МАТЕРІАЛІВ

Назва:
МЕТОД ТА ІНФОРМАЦІЙНО-ВИМІРЮВАЛЬНА СИСТЕМА КОРЕЛЯЦІЙНОГО АНАЛІЗУ СПЕКЛ-ЗОБРАЖЕНЬ ПОВЕРХОНЬ МАТЕРІАЛІВ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
16,90 KB
Завантажень:
229
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11 
Тема: Розробка нових методів та оптико-цифрових інформаційно-вимірюв
альних систем для кореляційного аналізу спекл-зображень поверхонь кон
струкційних матеріалів


НАЦІОНАЛЬНА АКАДЕМІЯ НАУК УКРАЇНИ
ФІЗИКО-МЕХАНІЧНИЙ ІНСТИТУТ ім. Г.В. КАРПЕНКА
Сахарук Олександр Миколайович
УДК 681.789
МЕТОД ТА ІНФОРМАЦІЙНО-ВИМІРЮВАЛЬНА СИСТЕМА КОРЕЛЯЦІЙНОГО АНАЛІЗУ СПЕКЛ-ЗОБРАЖЕНЬ
ПОВЕРХОНЬ МАТЕРІАЛІВ
05.11.16 – інформаційно-вимірювальні системи
Автореферат
дисертації на здобуття наукового ступеня
кандидата технічних наук
Львів – 2006
Дисертацією є рукопис
Робота виконана у Фізико-механічному інституті ім. Г.В. Карпенка НАН України.
Науковий керівник: | доктор технічних наук, старший науковий співробітник
Муравський Леонід Ігорович
завідувач відділу оптико-електронних інформаційних систем
Фізико-механічного інституту ім. Г.В. Карпенка НАН України
Офіційні опоненти: | доктор технічних наук, професор
Поджаренко Володимир Олександрович
завідувач кафедри метрології і промислової автоматики
Вінницького національного технічного університету, Вінниця
доктор технічних наук, професор
Русин Богдан Павлович
завідувач відділу методів та систем обробки, аналізу та ідентифікації зображень
Фізико-механічного інституту ім. Г.В. Карпенка НАН України, Львів
Провідна установа: Національний університет “Львівська політехніка”,
кафедра метрології, стандартизації та сертифікації
Захист відбудеться “ 22 червня 2006 р. о 1400 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д35.226.01 у Фізико-механічному інституті ім. Г.В. Карпенка НАН України за адресою: 79601, м. Львів, вул. Наукова, 5.
З дисертацією можна ознайомитися у бібліотеці Фізико-механічного інституту ім. Г.В. Карпенка НАН України за адресою: 79601, м. Львів, вул. Наукова, 5.
Автореферат розісланий “_22_” _травня_ 2006 р.
Учений секретар
спеціалізованої вченої ради,
д.т.н., ст.н.с. Погребенник В.Д.


ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
Актуальність теми.
В останні десятиліття у зв’язку з поєднанням приладів і елементів оптоелектронної техніки, зокрема, твердотільних відеокамер, швидкодіючих просторово-часових модуляторів світла, мініатюрних лазерних систем з сучасними комп’ютерами та системами цифрової обробки зображень, включаючи їх програмне та апаратне забезпечення, широкого розвитку набувають оптичні методи дослідження поверхонь матеріалів. Дані методи використовують як для вимірювання переміщень та деформацій поверхонь різноманітних матеріалів, так і для якісної оцінки поверхонь деталей та виробів. Серед цих методів найбільш поширеними є електронна спекл-інтерферометрія (ЕСІ), ширографія та цифрова спекл-кореляція (ЦСК).
Методи електронної спекл-інтерферометрії дозволяють реєструвати тривимірні поля переміщень оптично шорстких поверхонь за кожною просторовою координатою окремо, в діапазоні від декількох нанометрів до десятків мікрон. Однак, ці методи є дуже чутливі до вібрацій, вплив яких можна зменшити, використовуючи ширографію. На відміну від методів ЕСІ та ширографії, в методах ЦСК відсутня фазова складова оптичної хвилі, що призводить до зменшення впливу вібрацій і дозволяє вимірювати більші величини переміщень, ніж при використанні методів ЕСІ та ширографії. Крім того, завдяки використанню алгоритмів визначення положення кореляційних піків з субпіксельним розділенням, методи ЦСК дозволяють вимірювати переміщення поверхонь матеріалів у діапазоні від долей мікрон до декількох сотень мікрон.
Значний внесок у розвиток методів спекл-кореляції було здійснено І. Ямагучі, М. Саттоном, Д. Ченом, Ф. Чіангом, М. Сьодалом, Л. Бенкертом, К. Хінчом, Т. Фріке-Бегеманом, С. Грантхамом, С.В. Паніним та іншими. Переважна більшість праць присвячена цифровій спекл-кореляції, де обробка спекл-зображень здійснюється цифровими методами. На оптичні методи спекл-кореляції, незважаючи на їх великі потенційні можливості, не звертали достатньої уваги. Так, Е. Маром, Енкінс, Д. Вагнер, Д. Зіглер, К. Хінч, Р. Тріпаті, К. Сінх досліджували лише переміщення поверхні усього твердого тіла, використовуючи при цьому архітектури оптичних кореляторів.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11 



Реферат на тему: МЕТОД ТА ІНФОРМАЦІЙНО-ВИМІРЮВАЛЬНА СИСТЕМА КОРЕЛЯЦІЙНОГО АНАЛІЗУ СПЕКЛ-ЗОБРАЖЕНЬ ПОВЕРХОНЬ МАТЕРІАЛІВ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок