Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> ПРОГРАМОВАНІ ЛОГІЧНІ КОНТРОЛЕРИ З ВБУДОВАНИМИ ЗАСОБАМИ ТЕСТОВОГО ТА ФУНКЦІОНАЛЬНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ

ПРОГРАМОВАНІ ЛОГІЧНІ КОНТРОЛЕРИ З ВБУДОВАНИМИ ЗАСОБАМИ ТЕСТОВОГО ТА ФУНКЦІОНАЛЬНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ

Назва:
ПРОГРАМОВАНІ ЛОГІЧНІ КОНТРОЛЕРИ З ВБУДОВАНИМИ ЗАСОБАМИ ТЕСТОВОГО ТА ФУНКЦІОНАЛЬНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
20,91 KB
Завантажень:
507
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12  13  14 
НАЦІОНАЛЬНИЙ ТЕХНІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ“
ХАРКІВСЬКИЙ ПОЛІТЕХНІЧНИЙ ІНСТИТУТ”
Татаренко Денис Анатолійович
УДК 681.5:681.32-181.48
ПРОГРАМОВАНІ ЛОГІЧНІ КОНТРОЛЕРИ З ВБУДОВАНИМИ ЗАСОБАМИ ТЕСТОВОГО ТА ФУНКЦІОНАЛЬНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ
Спеціальність 05.13.05 – елементи та пристрої обчислювальної техніки
та систем керування
Автореферат дисертації на здобуття наукового ступеня
кандидата технічних наук
Харків – 2007


Дисертація є рукопис.
Робота виконана на кафедрі автоматики та управління в технічних системах Національного технічного університету “Харківський політехнічний інститут” Міністерства освіти і науки України м. Харків
Науковий керівник: доктор технічних наук, професор,
Дербунович Леонід Вікторович,
Національний технічний університет “
Харківський політехнічний інститут”,
професор кафедри автоматики та управління в
технічних системах
Офіційні опоненти: доктор технічних наук, професор
Фурман Ілля Олександрович,
Харківський державний технічний університет сільського господарства ім. П. Василенко,
завідувач кафедри автоматизації сільського
господарства та комп’ютерних технологій
кандидат технічних наук, доцент
Леонов Сергій Юрійович,
Національний технічний університет “
Харківський політехнічний інститут”,
доцент кафедри обчислювальної техніки та програмування
Захист відбудеться 30 жовтня 2007 р. о 1400 годині на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 64.050.14 в Національному технічному університеті
“Харківський політехнічний інститут” за адресою 61002, м. Харків, вул. Фрунзе, 21.
З дисертацією можна ознайомитись у бібліотеці Національного технічного університету “Харківський політехнічний інститут”.
Автореферат розісланий “ 10 ” вересня 2007 р.
Вчений секретар
спеціалізованої вченої ради Ліберг І.Г.


ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
Актуальність теми. Розвиток субмікронних технологій і масове промислове застосування мікропроцесорів, мікроконтролерів, програмованих логічних інтегральних схем (ПЛІС), можливість розміщення на одному кристалі до 109 транзисторів, підвищення тактової частоти роботи електронних елементів до 1ч5 ГГц, дозволяють перейти до створення систем на одному кристалі (СОК) або печатній платі, які володіють принципово новими архітектурними і функціональними характеристиками: самоорганізацією, реконфігурацією, штучним інтелектом.
В даний час більшість сучасних пристроїв і систем управління динамічними об'єктами будується на основі високонадійних і легко компонованих програмованих логічних контролерів (ПЛК), які пристосовані до роботи у важких промислових умовах. Використовування ПЛК для управління складними об'єктами, помилки в управлінні якими недопустимі, спричиняє за собою необхідність рішення задач забезпечення необхідного рівня надійності, працездатності, продуктивності і швидкої адаптації до класу вирішуваних задач. Відомі методи підвищення надійності і відмовостійкості цифрових пристроїв і систем управління засновані на використовуванні програмно-апаратних засобів діагностування технічного стану і відновлення працездатності пристрою за наявності відмов, дефектів обумовлених типів і кратності.
Аналіз причин відмов систем управління, побудованих на сучасній мікропроцесорній базі і функціонуючих у виробничих умовах, показує, що інтенсивність відмов системи в значній мірі визначається впливом нестійких перемежаючих несправностей (ПН) і збоїв. Експериментальні оцінки кількісних співвідношень між стійкими і нестійкими несправностями, отримані багатьма дослідниками, підтверджують, що 90% відмов в мікроконтролерних системах управління промислового застосування, обумовлено впливом нестійких несправностей. В цьому випадку відновлення працездатності системи можливо шляхом повторної “прокрутки” сегменту управляючої програми, на якому з'явилася нестійка несправність. Виявлення таких несправностей здійснюється вбудованими засобами функціонального діагностування. Система вбудованого тестового діагностування, що функціонує в режимах профілактичного контролю або мікродіагностики багатопроцесорних ПЛК (БПЛК), дозволяє знайти клас стійких несправностей, скоротити час і вартість технічного обслуговування.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12  13  14 



Реферат на тему: ПРОГРАМОВАНІ ЛОГІЧНІ КОНТРОЛЕРИ З ВБУДОВАНИМИ ЗАСОБАМИ ТЕСТОВОГО ТА ФУНКЦІОНАЛЬНОГО ДІАГНОСТУВАННЯ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок