Головна Головна -> Реферати українською -> Дисертації та автореферати -> ОПТИЧНА АНІЗОТРОПІЯ ДЕФОРМОВАНИХ ТА ДЕФЕКТНИХ СТРУКТУР В РІДКИХ КРИСТАЛАХ

ОПТИЧНА АНІЗОТРОПІЯ ДЕФОРМОВАНИХ ТА ДЕФЕКТНИХ СТРУКТУР В РІДКИХ КРИСТАЛАХ

Назва:
ОПТИЧНА АНІЗОТРОПІЯ ДЕФОРМОВАНИХ ТА ДЕФЕКТНИХ СТРУКТУР В РІДКИХ КРИСТАЛАХ
Тип:
Реферат
Мова:
Українська
Розмiр:
34,85 KB
Завантажень:
50
Оцінка:
 
поточна оцінка 5.0


Скачати цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12  13  14  15  16  17  18  19  20  21  22 
МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ І НАУКИ УКРАЇНИ
ІНСТИТУТ ФІЗИЧНОЇ ОПТИКИ
На правах рукопису
УДК 535.542; 532.783
НАСТИШИН Юрій Адамович
ОПТИЧНА АНІЗОТРОПІЯ
ДЕФОРМОВАНИХ ТА ДЕФЕКТНИХ СТРУКТУР
В РІДКИХ КРИСТАЛАХ
Спеціальність 01.04.05 - оптика, лазерна фізика
АВТОРЕФЕРАТ
дисертації на здобуття наукового ступеня
доктора фізико-математичних наук
ЛЬВІВ-2006
Дисертацією є рукопис.
Робота виконана в Інституті фізичної оптики Міністерства освіти і науки України.
Науковий консультант: доктор фізико-математичних наук, професор
Влох Орест Григорович,
директор Інституту фізичної оптики
Міністерства освіти і науки України
Офіційні опоненти: член-кор. НАН України,
Харченко Микола Федорович
доктор фізико-математичних наук,
професор, зав. відділом
Фізико-технічного інституту низьких температур
НАН України, м.Харків
доктор фізико-математичних наук,
Резніков Юрій Олександрович,
професор, зав. відділом
Інституту Фізики НАН України, м. Київ
доктор фізико-математичних наук,
Шопа Ярослав Іванович
завідувач кафедри загальної фізики
Львівського національного університету
імені Івана Франка, м.Львів
Провідна установа: Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова, НАН України, м. Київ
Захист відбудеться "_18_" ____04_______ 2006 р. о 15:30 год. на засіданні спеціалізованої вченої ради Д 35.071.01 в Інституті фізичної оптики за адресою 79005, м.Львів-5, вул. Драгоманова, 23
З дисертацією можна ознайомитися в бібліотеці Інституту фізичної оптики.
Автореферат розісланий "_15_" _____03______ 2006 р.
Вчений секретар
спеціалізованої вченої ради , І.М.Климів
кандидат фіз.-мат. наук,
доцент
ЗАГАЛЬНА ХАРАКТЕРИСТИКА РОБОТИ
Актуальність теми. Висока оптична анізотропія рідких кристалів (РК) та надзвичайна чутливість орієнтації директора до дії зовнішніх полів лежить в основі роботи сучасних пристроїв відображення інформації, включаючи плоскі рідкокристалічні дисплеї, виробництво яких на ринку сьогодні займає одне з чільних місць за прибутковістю. Зміна орієнтації директора під дією зовнішніх впливів приводить до суттєвих змін оптичної анізотропії рідких кристалів. За своїми оптичними властивостями монодоменні недеформовані рідкі кристали подібні до твердих кристалів і описуються законами традиційної кристалооптики. Відмінності в оптичній анізотропії рідких та твердих кристалів пов'язані з можливістю виникнення в РК деформацій (в тому числі і спонтанної модуляції поля директора) та дефектів, які, як правило, є гігантськими у порівнянні з деформаціями, що виникають в твердих кристалах. В РК деформації та дефекти структури, є ключовими об’єктами їхнього застосування чи дослідження. Оптична анізотропія деформованих та дефектних структур в РК, таким чином, є однією із актуальних проблем фізики рідких кристалів. Завдяки орієнтаційній пружності рідких кристалів дозволені деформації в них мають характерні довжини з дуже широким спектром (від субмікронного до макроскопічного масштабів). А це означає, що присутність деформацій відображається на анізотропних оптичних властивостях деформованих зразків і в багатьох випадках зовсім нетривіально. Задяки цьому оптичні методи, що базуються на вивченні оптичної анізотропії РК зразків широко використовуються для їх характеризації.
В фізиці рідких кристалів сформувався напрямок, який отримав назву оптична характеризація рідких кристалів. Оптична характеризація в рідких кристалах виявляється настільки ефективною, що, виходячи лише із досліджень оптичної анізотропії, часто вдається отримати конкретну структурну інформацію без необхідності застосування рентгеноструктурного аналізу, який є, все ж таки, експериментально важким методом та ще й стосовно рідких кристалів не завжди достатньо інформативним. Традиційно, оптична характеризація як рідких, так і твердих кристалів, сприймається як дослідження оптичних властивостей однорідно орієнтованих, монодоменних зразків. Однак, у випадку деформованих рідких кристалів існують якісні відмінності. По-перше, в рідких кристалах дуже легко виникають деформації. Виявлення деформацій є обов'язковою умовою коректності оптичної характеризації.

Завантажити цю роботу безкоштовно
Пролистати роботу: 1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12  13  14  15  16  17  18  19  20  21  22 



Реферат на тему: ОПТИЧНА АНІЗОТРОПІЯ ДЕФОРМОВАНИХ ТА ДЕФЕКТНИХ СТРУКТУР В РІДКИХ КРИСТАЛАХ

BR.com.ua © 1999-2017 | Реклама на сайті | Умови використання | Зворотній зв'язок